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《复旦学报(自然科学版)》
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2005年第1期
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编号:
10837216
CMOS组合电路开路故障的BIST探讨
http://www.100md.com
谢 波, 黄维康, 唐璞山
第1页
第3页
参见附件(165KB,7页)。
CMOS组合电路开路故障的BIST探讨.PDF
http://www.100md.com/html/DirDu/2005/12/18/83/76/21.htm
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详见PDF附件(165KB,7页)
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