【关键词】 新生儿；缺氧缺血性脑病；血糖

    新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是由于各种围产期因素引起的缺氧和脑血流减少而导致新生儿的脑损伤，其过程中必然伴有能量代谢障碍引起的糖代谢紊乱，易出现应激性低血糖或高血糖。为了解HIE患儿糖代谢紊乱发生情况及其对病情和预后的影响，2003年10月～2005年12月我院儿科对收治的78例HIE患儿进行血糖监测。其结果报告如下。

     1 资料和方法

    1.1 一般资料 78例均为我院儿科住院的HIE患儿，且符合1996年杭州会议制定的HIE临床诊断依据和临床分度标准[1]。其中男性43例，女性35例，胎龄为37～41周，体重>2 500 g，入院日龄<1天31例，1～3天47例。轻度HIE 27例，中度HIE 32例，重度HIE 19例。所有患儿均有窒息史，轻度窒息55例，重度窒息23例。所有病例排除先天畸形和各种感染性疾病。

    1.2 方法 78例患儿于入院后即采股静脉血测血糖。检验仪器为日本产全自动生化分析仪，检验试剂为上海科华公司生产。根据血糖紊乱诊断标准[2]：出生3天内新生儿全血血糖<2.20 mmol/L为低血糖 ......