HITACHI EUB-240 型B超图像仪异常故障排除一例
作者：王延辉 罗云章 古庆恩 郭志平 吕建锋
单位：050082 石家庄， 白求恩国际和平医院超声科
关键词：
中华超声影像学杂志990523 HITACHI EUB-240型B型超仪为电子线阵扫描成像系统，本文介绍1例由于聚焦延时电路故障造成的电源保护使扫描图像变暗无法正常工作的现象。
故障现象 机器启动后约2～3分钟， 图像变暗。 基本无法使用。 更换探头， 故障暂时消失， 2～3分钟后重现。 在图像变暗后， 屏幕上的数字信息， 电子标尺亮度均正常。
故障分析 由于电子标尺及字符系统亮度正常， 故首先考虑故障在发射—接收部分。 检查发射电路(图1)。
图1 发射电路图
发射电压HV正常为125 V， 示波器检查只有20 V， 因而发射电压不正常， 考虑可能为电源带负载能力弱， 检查电源电路， 无明显故障， 为过流保护。 人为将电源保护门限提高一倍， HV仍只保持瞬间正常。 因此， 发射电路有问题。
分析发射电路可知， 发射脉冲是经过T1导通后， C2迅速放电将发射脉冲加到晶片上的。 R1为充电限流电阻。 检查所有R1， 并无烧坏迹象， 阻值正常， T1为也正常， 因而分析可能是T1导通占空比过大， 引起平均功率过大， 导致电源过流保护。 因示波器监视P-1端， 机器刚上电时， 占空比极小， 脉宽为纳秒级， 2～3分钟后， 占空比迅速增大， 大于50%。 因而故障来源于发射控制脉冲， 经查延时芯片前级发射脉冲正常， 因此故障可能发生在延时芯片IC1。
故障排除 经查IC1损坏， 致使延时时间过长， 导致T1导通占空比过大， 从而使发射部分电源过流保护， 发射晶片无法正常工作， 图像变暗， 更换延时芯片， 图像恢复正常， B超仪正常工作。
(收稿 1999-07-28), 百拇医药
单位：050082 石家庄， 白求恩国际和平医院超声科
关键词：
中华超声影像学杂志990523 HITACHI EUB-240型B型超仪为电子线阵扫描成像系统，本文介绍1例由于聚焦延时电路故障造成的电源保护使扫描图像变暗无法正常工作的现象。
故障现象 机器启动后约2～3分钟， 图像变暗。 基本无法使用。 更换探头， 故障暂时消失， 2～3分钟后重现。 在图像变暗后， 屏幕上的数字信息， 电子标尺亮度均正常。
故障分析 由于电子标尺及字符系统亮度正常， 故首先考虑故障在发射—接收部分。 检查发射电路(图1)。
图1 发射电路图
发射电压HV正常为125 V， 示波器检查只有20 V， 因而发射电压不正常， 考虑可能为电源带负载能力弱， 检查电源电路， 无明显故障， 为过流保护。 人为将电源保护门限提高一倍， HV仍只保持瞬间正常。 因此， 发射电路有问题。
分析发射电路可知， 发射脉冲是经过T1导通后， C2迅速放电将发射脉冲加到晶片上的。 R1为充电限流电阻。 检查所有R1， 并无烧坏迹象， 阻值正常， T1为也正常， 因而分析可能是T1导通占空比过大， 引起平均功率过大， 导致电源过流保护。 因示波器监视P-1端， 机器刚上电时， 占空比极小， 脉宽为纳秒级， 2～3分钟后， 占空比迅速增大， 大于50%。 因而故障来源于发射控制脉冲， 经查延时芯片前级发射脉冲正常， 因此故障可能发生在延时芯片IC1。
故障排除 经查IC1损坏， 致使延时时间过长， 导致T1导通占空比过大， 从而使发射部分电源过流保护， 发射晶片无法正常工作， 图像变暗， 更换延时芯片， 图像恢复正常， B超仪正常工作。
(收稿 1999-07-28), 百拇医药