其中的i为包被的抗体或抗原， j为竞争的交叉成分，i与j的交叉作用超过了实验精度界限，n为需考虑交叉反应成分的数目。根所交叉率矩阵R组成对应的斜率矩阵为B_(bi，j)，为式(2)。

    b_i，j为B矩阵中的任一元素，亦纳入交叉反应考虑的任一抗体对任一成分作用线性方程的斜率。同样A为对应的截距矩阵，为式(3)。

    再取包被有多种抗原(或抗体)的芯片板，每个微孔内加入待测样品溶液，在每个微孔内加入标记的抗体(或标记抗原)，反应，洗涤后，加入底物显色测定或直接测定荧光、放射性强度、发光强度，读出样品液对抗原抗体反应吸收值，如采用D(样品或对照品的吸收值)/D0(为不加样品或标准品液的吸收值)计算抑制率，则应乘上100，再加上(n-1)×100构成总叠加抑制率列向量I；如采用(D₀-D)/D₀计算抑制率，则乘上100即可构成总叠加抑制率列向量I ......