摘要：目的 研究鋅离子螯合剂(TPEN)干预抗抗N-甲基-D-天门冬氨酸(NMDA)受体脑炎诱导的神经元损伤的作用及机制，为治疗抗NMDA受体脑炎提供新的研究靶点。方法 选取成年Wistar大鼠40只，随机分为TPEN组、ZnSO4组、对照组和正常组4组，各10只。建立抗NMDA受体脑炎诱导的体外神经元细胞损伤模型，应用台盼蓝染色、细胞免疫组织化学、TUNEL神经元细胞凋亡检测和荧光锌离子探针技术检测锌离子螯合剂干预抗NMDA受体脑炎导致神经元损伤的作用机制。结果 谷氨酸浓度为100﹑200 μmol/L时，细胞凋亡率随着谷氨酸浓度升高而上升(P<0.05);在谷氨酸浓度为200﹑300﹑400 μmol/L时，神经元凋亡率随着浓度上升而下降(P<0.05)。凋亡后24、48、72 h，TPEN组、ZnSO4组及对照组神经元凋亡率高于正常组，神经元存活率低于正常组 ......