上海市社区居民糖调节受损流行特点及影响因素的kogistic回归分析

http://www.100md.com 2006年4月1日 卢　伟　李　锐　黎　燕　傅　华　金泰虞　张胜年

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     摘要： [目的]调查上海市社区居民糖调节受损的流行病学特征，探讨糖耐量受损(IGT)、空腹血糖受损(IFG)的危险因素。[方法).对上海市13 495人展开IGT和IFC流行病学调查，适用单因素和多因素非条件logistic回归分析，探讨影响IGT、IFG发生的危险因素。[结果] ICT、IFG患病率为6.95%、1.75%(世界人口标化率为4.42%、1.03%)，随着年龄的增加，IGT、IFG患病率逐步升高；进入多因素非条件logistic回归模型的因素有年龄、超重、肥胖、腰臀比(WHR)、三酰甘油(TG)、高血压、糖尿病家族史(P<0.05或P<0.01)。[结论]糖调节受损具有高龄群体高患病的增龄特点；年龄、超重、肥胖、WHR、TC、高血压、糖尿病家族史为糖调节受损的主要危险因素。

    关键词：ICT；IFC；Logistic回归分析；患病率

    文章编号：1006-3617(2006)02-0122-03

    中图分类号：R181.3⁺8

    文献标识码：A

    http://www.100md.com/html/paper/1006-3617/2006/02/10.htm

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