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编号:11585525
瘢痕疙瘩发病风险与Fas基因-670位点多态性(1)
http://www.100md.com 2008年3月1日 卓 阳 曾兴业 周雪雪 黄大道 曹晓恩 黄正炼
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     [摘要]目的:研究Fas基因-670位点多态性与瘢痕疙瘩发病风险的关系。方法:采用聚合酶链反应-反向点杂交、DNA直接测序方法,检测了75例瘢痕疙瘩患者与120名正常对照的Fas基因-670多态性位点的基因型。结果:瘢痕疙瘩患者的A等位基因频率明显高于正常对照组(χ2=4.408,P=0.036)。瘢痕疙瘩患者的A/G、G/G基因型频率与正常对照组相比差异无统计学意义(χ2值分别为1.051和1.134;P值分别为0.305和0.287),而瘢痕疙瘩患者的A/A基因型频率明显高于对照组(χ2=5.207,P=0.022)。提示A/A基因型者患瘢痕疙瘩的风险性明显高于A/G、G/G基因型者(OR=2.122,95%CI:1.105~4.077)。结论:Fas基因-670多态性位点的基因型检测可能对判断瘢痕疙瘩高危个体具有指导意义。

    [关键词]瘢痕疙瘩;Fas基因;多态性;遗传易感性

    [中图分类号]R619+.9[文献标识码]A[文章编号]1008-6455(2008)03-03

    Fas gene -670 polymorphism and susceptibility to keloid in a Chinese population

    ZHUO Yang,ZENG Xing-ye, ZHOU Xue-xue,HUANG Da-dao,CAO Xiao-en,HUANG Zheng-lian

    (Department of Surgery,the 118th Hospital of PLA,Wenzhou 325000,Zhejiang, China)

    Abstract:ObjectiveTo investigate the relationship between Fas-670 polymorphism and susceptibility to keloid in a southern Chinese population ......

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