口腔复合树脂表面分析方法的比较(2)
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SEM和AFM是纳米级形貌研究的最常用技术。虽然这两种技术获得图像的横向分辨率相近,但是它们所获得图像的纵向分辨率存在显著的差别。对于SEM技术的图像,它的扫描范围较大,可达数mm×mm,具有较大的景深,可达数微米,AFM技术的最大扫描范围100μm×100μm,景深仅为数微米。Majesty的扫描电镜图像(图1)可见预聚合填料在表面的分布,脱落造成的凹坑,以及磨料造成的划痕。AFM技术可真实地得到样品表面的形貌结构图像,图像是真正的三维图像,并能测量样品的三维信息[4]。图3B显示Majesty预聚合颗粒在磨料磨抛后呈稍高于基质的不规则外形与周围基质发生的裂隙,粗糙度较大Ra值54.5nm。图3A显示Majesty表面均质光滑,粗糙度Ra值11.1nm。图4A,图4B均显示z350表面均质平坦。SEM技术非常难检测样品表面细微的高度变化。与SEM相比,AFM可以检测局部表面结构,而不是整个表面的平均性质,AFM的工作区域选择盲目,工作区域有限,只能在微米尺度范围进行扫描,因此应该利用SEM的纳米尺度的分辨率和大范围搜寻能力,尽快找到和锁定需要进行AFM研究的目标或感兴趣的区域,然后迅速实现宏观到微观过渡和跨越 ......
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