缺血缺氧性脑病[HIE]新生儿血糖监测的意义

http://www.100md.com 2010年3月1日 申世琴

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     新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是围生期窒息缺氧导致的缺氧缺血性脑损害，是新生儿死亡和导致神经系统后遗症的重要原因之一，为了解HIE患儿血糖变化及其对预后的影响，对本科2007年1月-2009年12月入院的78例HIE患儿血糖进行监测。现报导如下；

    http://www.100md.com/html/paper/2075-2156/2010/05/64.htm

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