高热惊厥患儿的危险因素与其脑电图检查结果的关联性分析
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李玉贞 黄小敏 徐雨菲 高 梅广东省中山市中医院,广东中山 528400
高热惊厥在小儿中较为常见,在低于5 岁小儿中,小儿高热惊厥的发病率达到了2.3%~4.5%,普遍集中在6 个月~5 岁,在受到比较微弱的刺激时可因发生大脑运动神经元功能异常而发生惊厥,但是其中病因并不包括外中枢神经系统感染,在病情观察和判断预后时较普遍采用脑电图检查[1-2]。然而,临床上出现高热的患儿不一定都出现高热惊厥,因此对高热惊厥的影响因素有哪些、如何能有效发现异常患儿,基于此回顾性分析2014 年1月~2018 年1 月我院收治549 例小儿高热惊厥的数据资料,对其资料进行详细的分析,以判断高热惊厥患儿的危险因素与其脑电图检查结果的关联性,现报道如下。
1 资料与方法
1.1 一般资料
回顾性分析2014 年1 月~2018 年1 月我院收治549 例小儿高热惊厥的数据资料,男216 例,女333 例,全部病例的发热病因为消化道及呼吸道感染性疾病,检查后将颅内感染及代谢性或器质性疾病病因排除,除此以外均符合诊断标准。
1.2 方法
脑电图检查于高热惊厥发作后当时或发热后3~5d 进行。使用维迪siriusBB 型脑电图仪,按照国际10/20 系统放置16 导的头皮记录电极,常规作单极导联描述。电极采用镀银盘状电极,涂以导电膏,外用弹力帽进行进一步的固定 ......
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