【摘要】目的 探讨小儿高热惊厥的临床因素与脑电图特征的关系。方法 回顾性分析我院2010年1月～2015年12月期间250热性惊厥患儿的临床资料，观察热性惊厥发病患儿脑电图异常变化与患儿年龄、性别、发病时间等因素之间的相关性。结果 250例患儿发病10天后脑电图分析186例(74.40%)正常；64例(25.60%)出现异常。其中患儿各因素分析与脑电图检查异常的相关性分析中，性别和疾病发作时间2因素结果比较无统计学意义，P>0.05。在患儿的年龄、发病次数、体温及遗传史等因素比较均有统计学意义，P<0.05。结论 高热惊厥患儿临床脑电图异常率与患儿的年龄、发病次数、体温及家族遗传有相

    关性。

    【关键词】高热惊厥；脑电图；临床分析

    【中图分类号】R742.1 【文献标识码】B 【文章编号】ISSN.2095-6681.2016.34..02

    小儿高热惊厥是儿科常見疾病，其临床发病率占到小儿惊厥的30%以上[1]，若反复发作可导致患儿癫痫、影响脑部正常发育以及导致患儿智力障碍等严重后果。由于小儿高热惊厥的发病过程会引发患儿脑电异常，临床可通过观察患儿脑电图检查情况来对疾病进行辅助诊断。我院儿科将250例小儿高热惊厥的临床病例特征及脑电图变化情况进行分析，现报道如下。

    1 研究资料与方法

    1.1 研究资料

    选择我院儿科于2010年1月～2015年12月期间收治的250热性惊厥患儿作为研究对象 ......