浅谈新生儿缺氧缺血性脑病的CT诊断
【中图分类号】R722 【文献标识码】B 【文章编号】2095-6851(2018)02--02新生儿缺氧缺血性脑病(Hypoxic Ischemic Encephalopathy, HIE)由于各种围产期因素引起的缺氧和脑血流减少或暂停而导致胎儿和新生儿的脑损伤,称之为缺氧缺血性脑病,是导致儿童神经系统伤残的常见原因之一。头颅CT对脑部的改变极为敏感,可以确定HIE病变部位和范围;确定有无颅内出血和类型;了解HIE的后遗改变;为临床诊疗提供可靠的依据。
病因:所有引起窒息的原因均可导致本病,包括母亲因素;胎盘、脐带异常;分娩用药;产程延长;新生儿本身呼吸、循环、CNS疾病等。
发病机制:1.脑血流改变:血流重新分布:大脑半球-灰质-皮质。2.脑组织生化代谢改变:(1)缺氧-无氧代谢-乳酸增多-酸中毒。(2)ATP减少-膜泵失常-细胞内高渗-细胞毒性水肿。(3)脑缺氧-兴奋性氨基酸(如谷氨酸、天冬氨酸)浓度增高。3.神经病理学改变:(1)缺氧缺血区坏死、出血 ......
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